10 2025 檔案

摘要：在半導體設計與制造中，靜態參數測試是驗證器件性能與可靠性的基石。無論是研發階段的特性分析，還是量產中的質量控制，對器件直流參數、IV曲線、動態響應等關鍵指標的精準捕捉，都直接影響產品的最終表現。 然而，傳統測試系統往往面臨精度不足、兼容性差、擴展性弱等挑戰，尤其在面對第三代半導體材料（如SiC、Ga 閱讀全文

摘要：—— 走進-蘇州永創-STD2000X半導體電性測試系統的技術世界 在現代電子設備中，半導體器件如同人體的“心臟”與“神經”，其性能直接決定了整機的可靠性與效率。而如何對這些微小的“電子器官”進行全面、精準的“體檢”，成為了半導體研發、制造與質量控制中不可或缺的一環。今天，我們就來聊聊半導體測試背后 閱讀全文

摘要：半導體分立器件電參數測試儀系統測試哪些參數 測試參數主要是靜態參數，如下所示 能測很多電子元器件靜態參數以及IV曲線掃描。如 Si, SiC, GaN 材料的 IGBTs，Diodes，MOSFETs，HEMT，BJTs，SCRs，光耦，繼電器，穩壓器......可以外接夾具、工裝、探針臺、分選機、 閱讀全文

摘要：IV曲線追蹤掃描儀&半導體圖示儀能測IGBT. Mosfet. Diode. BJT...... STD2000X—IV曲線追蹤掃描儀系統能測試很多電子元器件的靜態直流參數（如擊穿電壓V(BR)CES/V(BR)DSs、漏電流ICEs/lGEs/IGSs/lDSs、閾值電壓/VGE(th)、開啟電壓 閱讀全文

摘要：蘇州永創智能 半導體靜態電性測試系統_STD2000X 基礎信息 測試分析：功率器件研發設計階段的初始測試 失效分析：失效器件測試，失效機理，設計方案改善 選型配對：器件焊接PCB之前測試，按器件一致性分類配對 來料檢驗：質量部對入廠器件進行抽檢/全檢，把控良品率 量產測試：連接機械手、掃碼槍、分選 閱讀全文

摘要：半導體功率器件靜態參數測試儀系統STD2000X能測很多電子元器件靜態參數以及IV曲線掃描 如 Si, SiC, GaN 材料的 IGBTs，Diodes，MOSFETs，HEMT，BJTs，SCRs，光耦，繼電器，穩壓器...... 可以外接夾具、工裝、探針臺、分選機、編帶機、機械手 高壓源 14 閱讀全文

摘要：半導體靜態參數測試儀系統設備STD2000X能測很多電子元器件靜態參數以及IV曲線掃描 如 Si, SiC, GaN 材料的 IGBTs，Diodes，MOSFETs，HEMT，BJTs，SCRs，光耦，繼電器，穩壓器...... 可以外接夾具、工裝、探針臺、分選機、編帶機、機械手 高壓源 1400 閱讀全文