測試領域,蘇州永創-STD2000X-半導體分立器件電參數測試儀系統能測試哪些元器件和參數
半導體分立器件電參數測試儀系統測試哪些參數
測試參數主要是靜態參數,如下所示
能測很多電子元器件靜態參數以及IV曲線掃描。如 Si, SiC, GaN 材料的 IGBTs,Diodes,MOSFETs,HEMT,BJTs,SCRs,光耦,繼電器,穩壓器......可以外接夾具、工裝、探針臺、分選機、編帶機、機械手

高壓源 1400V(選配 2KV),
高流源 40A(選配 100A,200A,300A)
柵極電壓電流 20V(選配40V/100V)
分辨率最高至 1.5uV / 1.5pA 精度最高可至 0.1%
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二極管 DIODE
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晶體管 TRANSISTOR(NPN型/PNP型)
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穩壓(齊納)二極管 ZENER
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結型場效應管 J-FET (N-溝/P-溝,耗盡型/增強型)
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MOS場效應管 POWER MOSFET(N-溝/P-溝)
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三端穩壓器 REGULATOR(正電壓/負電壓,固定/可變)
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光電耦合器 OPTO-COUPLER(NPN型/PNP型)
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可控硅整流器(普通晶閘管) SCR
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雙向可控硅 (雙向晶閘管) TRIAC
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絕緣柵雙極大功率晶體管 IGBT(NPN型/PNP型)
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光電邏輯器件 OPTO-LOGIC
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雙向觸發二極管 DIAC
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固態過壓保護器 SSOVP
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光電開關管 OPTO-SWITCH
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硅觸發開關 STS
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繼電器 RELAY
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金屬氧化物壓變電阻 MOV
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壓變電阻 VARISTOR
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達林頓陣列 DARLINTON
漏電參數:IR、ICBO、LCEO/S/X、IDSS/X、IDOFF、IDRM、IRRM、ICOFF、IDGO、ICES、IGESF、IGESR、IEBO、IGSSF、IGSSR、IGSS、IGKO、IR(OPTO)
擊穿參數:BVCEO BVCES(300μS Pulse above10mA)BVDSS、VD、BVCBO、VDRM、 VRRM、VBB、BVR、VD+、VD-、BVDGO、BVZ、BVEBO、BVGSS、BVGKO
增益參數:hFE、CTR、gFS、
導通參數:VCESAT、VBESAT、VBEON、 VF、VT、VT+、VT-、 VON、VDSON、VDON、VGSON、VF(Opto-Diode)VGSTH、VGETH、VTM、VSD、IDON、VSAT、IDON、 Notch = IGT1,IGT4、ICON、VGEON、VO(Regulator)、IIN(Regulator)
混合參數:rDSON、gFS、Input Regulation、Output Regulation
關斷參數:VGSOFF
觸發參數:IGT、VGT
保持參數:IH、IH+、IH-
鎖定參數:IL、IL+、IL-

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