測試領域，蘇州永創-STD2000X-半導體分立器件電參數測試儀系統能測試哪些元器件和參數

半導體分立器件電參數測試儀系統測試哪些參數

測試參數主要是靜態參數，如下所示

能測很多電子元器件靜態參數以及IV曲線掃描。如 Si, SiC, GaN 材料的 IGBTs，Diodes，MOSFETs，HEMT，BJTs，SCRs，光耦，繼電器，穩壓器......可以外接夾具、工裝、探針臺、分選機、編帶機、機械手

高壓源 1400V（選配 2KV），

高流源 40A（選配 100A,200A,300A）

柵極電壓電流 20V（選配40V/100V）

分辨率最高至 1.5uV / 1.5pA 精度最高可至 0.1%

1. 二極管 DIODE

2. 晶體管 TRANSISTOR（NPN型/PNP型）

3. 穩壓（齊納）二極管 ZENER

4. 結型場效應管 J-FET （N-溝/P-溝，耗盡型/增強型）

5. MOS場效應管 POWER MOSFET（N-溝/P-溝）

6. 三端穩壓器 REGULATOR（正電壓/負電壓，固定/可變）

7. 光電耦合器 OPTO-COUPLER（NPN型/PNP型）

8. 可控硅整流器（普通晶閘管） SCR

9. 雙向可控硅 （雙向晶閘管） TRIAC

10. 絕緣柵雙極大功率晶體管 IGBT（NPN型/PNP型）

11. 光電邏輯器件 OPTO-LOGIC

12. 雙向觸發二極管 DIAC

13. 固態過壓保護器 SSOVP

14. 光電開關管 OPTO-SWITCH

15. 硅觸發開關 STS

16. 繼電器 RELAY

17. 金屬氧化物壓變電阻 MOV

18. 壓變電阻 VARISTOR

19. 達林頓陣列 DARLINTON

漏電參數：IR、ICBO、LCEO/S/X、IDSS/X、IDOFF、IDRM、IRRM、ICOFF、IDGO、ICES、IGESF、IGESR、IEBO、IGSSF、IGSSR、IGSS、IGKO、IR(OPTO)

擊穿參數：BVCEO BVCES(300μS Pulse above10mA)BVDSS、VD、BVCBO、VDRM、 VRRM、VBB、BVR、VD+、VD-、BVDGO、BVZ、BVEBO、BVGSS、BVGKO

增益參數：hFE、CTR、gFS、

導通參數：VCESAT、VBESAT、VBEON、 VF、VT、VT+、VT-、 VON、VDSON、VDON、VGSON、VF(Opto-Diode)VGSTH、VGETH、VTM、VSD、IDON、VSAT、IDON、 Notch = IGT1，IGT4、ICON、VGEON、VO(Regulator)、IIN(Regulator)

混合參數：rDSON、gFS、Input Regulation、Output Regulation

關斷參數：VGSOFF

觸發參數：IGT、VGT

保持參數：IH、IH+、IH-

鎖定參數：IL、IL+、IL-