從實驗室到產線：蘇州永創-STD2000X如何統一分立器件靜態參數測試儀的“語言”？

在半導體設計與制造中，靜態參數測試是驗證器件性能與可靠性的基石。無論是研發階段的特性分析，還是量產中的質量控制，對器件直流參數、IV曲線、動態響應等關鍵指標的精準捕捉，都直接影響產品的最終表現。

然而，傳統測試系統往往面臨精度不足、兼容性差、擴展性弱等挑戰，尤其在面對第三代半導體材料（如SiC、GaN）時，更是力不從心。

今天我們來看一款來自蘇州永創智能的STD2000X 半導體分立器件靜態電性測試系統，它不僅在精度與速度上實現了突破，更在測試理念與系統集成上展現出獨特的創新。

一、不只是“測試儀”，更是“靜態參數系統”

STD2000X 被定義為一套完整的“半導體分立器件靜態電性測試系統”，其核心定位在于：

覆蓋廣度：支持7大類、26小類器件測試，包括二極管、三極管、MOSFET、IGBT、光耦、繼電器、保護器件等；

材料兼容：不僅適用于傳統Si器件，更完整支持SiC、GaN等寬禁帶半導體；

功能集成：融合靜態參數測試 + IV曲線掃描 + 動態特性分析 + 結電容測量，一站式完成器件表征。

?? 創新點：它不是單一功能的“測量工具”，而是具備可編程、可擴展、可聯網的智能測試平臺。

二、精度與速度：不只是數字的游戲

半導體分立器件靜態參數測試儀 STD2000X 在硬件性能上表現出色：

電壓分辨率：最高可達 1.5μV

電流分辨率：最低至 1.5pA

高壓源：標配1400V，可選配至 3kV

高流源：標配40A，可選配至 1000A（1kA）

采樣速率：1M/S，16位ADC

這些參數背后，是系統在微電流測量、高壓穩定性、脈沖加熱等方面的技術積累。例如，其“一鍵脈沖加熱”功能可在 <1秒 內將器件加熱至±130℃，大幅提升高溫測試效率。：標配40A，可選配至 1000A（1kA）

采樣速率：1M/S，16位ADC

這些參數背后，是系統在微電流測量、高壓穩定性、脈沖加熱等方面的技術積累。例如，其“一鍵脈沖加熱”功能可在 <1秒 內將器件加熱至±130℃，大幅提升高溫測試效率。

三、軟件定義測試：人人都可編程的“測試腳本”
STD2000X 的軟件系統基于 LabVIEW 平臺開發，具備填充式菜單界面，用戶無需編寫代碼即可完成測試流程的搭建與修改。

點擊添加 按鈕，系統將左邊的可測參數加至右邊測試參數表，左邊窗口中列出系統可測的所有參數，雙擊欲選擇的參數或單擊欲選擇的參數后點擊確定按鈕，即在待測參數窗口中增加了一個測試參數(在尾部)，同時在右部參數編輯窗口中將顯示該參數的名稱，供下一步進行編輯測試參數。

點擊刪除 按鈕，系統將刪除當前參數。

支持：

自定義測試序列

自動分檔與統計

Excel數據導出

遠程控制與自動化對接

這使得系統不僅適用于實驗室研發，也能無縫接入產線分選機、機械手、Prober 等設備，實現規模化測試。

四、典型應用場景：從研發到量產的全周期覆蓋

五、創新不止于硬件：BOX1000 高低溫測試套件

半導體分立器件STD2000X 靜態參數測試儀可搭配 BOX1000 高低溫試驗艙，實現 -55℃ ~ +200℃ 環境下的實時參數測試。這對于功率器件、車規芯片等溫度敏感型器件的驗證尤為重要。

六、結語：靜態測試的“新基建”

在半導體自主化與智能化浪潮中，測試設備不僅是“工具”，更是技術驗證的底座、數據驅動的起點。半導體分立器件STD2000X靜態參數測試儀通過高精度、高兼容、可編程、可擴展的設計，正在成為越來越多企業與研究所的“靜態測試基座”。

如果你也在尋找一款能同時滿足 研發深度 + 量產效率 的靜態測試系統，不妨關注一下這款“不被定義”的STD2000X。