實驗一
1.1
3 輸入多數表決器。
整體方案設計
數據
- 輸入信號\(XYZ\):三個表決數據
- 輸出信號\(F\):輸出項,表示多數表決數據
輸入輸出引腳
需要 3 個輸入引腳和 1 個輸出引腳
模塊
三個與門和一個或門,具體見下
原理圖和電路圖
原理圖

電路圖

仿真測試
代表性輸入輸出
- \(X=1 \ Y=0 \ Z=0\)
- \(X=1 \ Y=1 \ Z=0\)
可以看到都沒問題
錯誤現象及分析
- 沒遇到錯誤
1.2
利用 CMOS 晶體管構建兩輸入或門。
整體方案設計
數據
- \(XY\):兩個輸入
- \(F\):或結果輸出
輸入輸出引腳
兩個輸入引腳、1 個輸出引腳
模塊
3 對 CMOS 晶體管
原理圖和電路圖
- 原理圖
- 電路圖
仿真測試
代表性輸入輸出
- \(X=0 \ Y=0\)
- \(X=1 \ Y=0\)
錯誤現象及分析
- 沒有遇到錯誤
1.3
利用基本邏輯門和 CMOS 晶體管實現多路選擇器。
整體方案設計
數據
- \(D0,D1\):兩個輸入端
- \(S\):控制端,用于從D1,D2中選擇作為結果
輸入輸出引腳
3 個輸入端和 1 個輸出端
部件
兩個 2 輸入與門、1 個 2 輸入或門、1 個非門
原理圖和電路圖
仿真測試
冒險檢測
- 設置\(D_0=D_1=S=1\),觀察輸出值
![image]()
兩個探針處還是保持原狀態,分別是 1 和 0,說明非門的輸入端并沒有隨著 S 的改變而立即發生變化 - 第一次單步仿真
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此時非門輸入端發生變化,但其輸出端沒有立即發生變化 - 第二次單步仿真
![image]()
此時非門輸出為 1,但上面的與門的輸出沒有變化 - 第三次單步仿真
![image]()
- 第四次單步仿真
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直到第 4 次單步仿真后每個邏輯門才都轉變為正確的輸入/輸出狀態
單步仿真過程反映了信號在電路中的延遲情況。第1 次點擊進行單步仿真后,經過后續 3 次單步仿真后整個電路得到正確的輸入/輸出狀態,即從輸入到輸出共經過了非門、與門和或門 3 級邏輯門延遲
錯誤現象及分析
- 沒有遇到錯誤
1.4
- 使用傳輸門實現選擇器
整體方案設計
輸入輸出引腳
- \(D0,D1\):兩個輸入端
- \(S\):控制端,用于從D1,D2中選擇作為結果
原理圖和電路圖
原理圖

電路圖

仿真測試
代表性輸入輸出
- \(D0=1 \ D2=0 \ S=0\)
- \(D0=0 \ D2=1 \ S=1\)
錯誤現象及分析
沒有遇到錯誤
1.5
整體方案設計
輸入輸出引腳
- \(D(D0~D3)\):四位輸入
- \(S(S0~S1)\):兩位控制信號,用于選擇輸入作為結果
原理圖和電路圖
- 4-1 MUX
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- 2-1 MUX
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仿真測試
代表性輸入輸出
- \(D=0001 \ S=00\)
- \(D=0100 \ S=01\)
錯誤現象及分析
沒有遇到錯誤
思考題
根據 2 選 1 多路選擇器的與-或電路,替換成與非-與非電路,并分析兩種電路的特性。
只需要證明與門,或門和非門都可以通過與非門實現
實際上,我們有:\(\overline{S}=S \text{NAND} S, A+B=\overline{\overline{A}\cdot\overline{B}}=(A\space NAND\space A)\space NAND\space (B \space NAND\space B)A\cdot B=\overline{\overline{A\cdot B}}=\overline{\overline{A}+\overline{B}}\)(然后套入前面一個公式即可)
特性:
- 與-或電路直觀,但晶體管數較多導致功耗和面積較高
- 與非-與非電路反之
實現 4 位二進制數轉換成格雷碼的轉換電路。

實現 4 位二進制數的奇偶校驗位生成電路。




















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