芯片測試中的電源管腳接觸測試
電源管腳接觸測試(Power Pin Contact Test)是芯片量產/測試流程中用于確認芯片電源引腳(如 VDD、VSS、AVDD、DVDD 等)是否與測試治具或探針臺良好接觸的關鍵測試環節。
1.為什么要做電源管腳接觸測試?
電源管腳如果接觸不良,可能導致:
- 芯片無法正常上電,所有后續測試失效
- 功耗異常、讀寫失敗等誤判
- 燒壞芯片或探針卡
?? 所以在 功能測試前必須驗證電源管腳接觸良好。
2.電源管腳接觸測試的基本原理

3.常見測試流程(以 PXI 系統 + SMU 為例)

4.電源接觸良好/不良典型表現

5.接觸測試波形示意(簡化)

6.適用 NI 設備

7.注意事項
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電源腳連接應逐一檢查,特別是模擬電源、數字電源、參考電源(如 AVDD、DVDD、VREF)
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設置合理的限流值,避免芯片損壞
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若有多個電源軌,需獨立測試每一個電源引腳
8.總結

以上就是電源管腳測試的簡單介紹。
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