芯片中的 IO管腳接觸測試（IO Pin Contact Test），是芯片測試流程（ATE：Automatic Test Equipment 流程）中非常關(guān)鍵的早期測試環(huán)節(jié)，主要用于判斷芯片引腳是否正確接觸探針/測試座，以避免由于接觸不良導致后續(xù)測試誤判。

1.IO管腳接觸測試的目的

• 確認每個 IO 腳是否與測試機/探針卡接觸良好
• 避免誤判芯片功能異常其實是接觸不良
• 在功能測試前篩掉接觸失敗的芯片

2.測試原理與流程

3.常用測試方法

4.所需設(shè)備（基于 NI PXI 系統(tǒng)）

5.接觸良好 vs 接觸不良 的測試結(jié)果示例

6.總結(jié)

以上就是IO管腳接觸測試的簡單介紹

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